Přeskočit na hlavní obsah
Přeskočit hlavičku

Výzkumné zaměření

Nanomateriály na bázi anorganických vrstevnatých struktur silikátů a nanouhlíků:

  • technologie tenkých nano-uhlíkatých a polymerních filmů,
  • interkalace a roubování vrstevnatých struktur minerálů organickými i organokovovými molekulami a komplexními ionty,
  • syntézy nanočástic kovů, jejich oxidů v nanoreaktoru mezivrstevního prostoru a na povrchu vrstevnaté matrice,
  • příprava nanokompozitních hybridních plniv typu " podložka-funkční částice",
  • mechanická a mechanochemická příprava nanočástic a nanostrukturovaných materiálů,
  • příprava submikronových částic a nanočástic pomocí tryskového mletí,
  • ultrazvukové techniky přípravy nanočástic a nanostrukturovaných materiálů hybridního typu, sonochemie.

Vývoj a charakterizace nanokompozitních materiálů a nanokeramiky:

  • kompozitní materiály na bázi přírodních materiálů pro ukládání energie (baterie, kondenzatory),
  • mikrocelulární oxidická a silikátová keramika, cordieritová keramika,
  • biokompatibilní hydroxyapatitová keramika a  kompozity na bázi kolagenu,
  • kovové nanokompozity s nanočásticemi (uhlík, oxidy kovů),
  • polymerní nanokompozitní filmy s hybridními nanoplnivy pro antimikrobiální  aplikace.

Charakterizace připravených nanomateriálů a kompozitů probíhá v návaznosti na charakterizační techniky s využitím difrakčních a spektroskopických metod, elektronové mikroskopie a mikroskopie atomárních sil, hodnocení velikosti částic a povrchů, chromatografie a dalších analytických metod. Vedle experimentálních metod využíváme počítačový design nanomateriálů – molekulární simulace (molekulární mechanika a molekulární dynamika), který umožňuje interpretovat experimentální data, analyzovat a predikovat strukturu a vlastnosti nanomateriálů. Dynamické výpočty atomových a molekulárních seskupení v supramolekulárních strukturách s anorganickou matricí jsou prováděny v modelovacím prostředí Materials Studio, Accelrys.

Přístrojové vybavení

  • RTG práškový difraktometr INEL CPS 120
  • RTG práškový difraktometr RIGAKU Ultima IV
  • X-ray diffractometer Rigaku Miniflex
  • DSC131 evo - Diferenciální kompenzační kalorimetrie DSC (-170 až 700°C)
  • Simultánní termická analýza s rozšířením o analýzu uvolněných plynů pomocí FTIR a MS SETSYS Evolution firmy Setaram Instrumentation doplněný Infračerveným spektrometrem Nicolet iS50 a
  • Hmotnostním spektrometrem GSD 320 O3 Omnistar MS
  • XRFS - rentgenová fluorescenční spektrometrie RIGAKU, Supermini 200
  • Sítovací stroj proudový RETSCH Sieves AS 200 JET
  • Ultrazvuková lázeň s chlazením BANDELIN SONOCOOL
  • Mikroskop atomárních sil Solver-Next, NT-MDT
  • Optický mikroskop OLYMPUS
  • Tryskový mlýn STURTEVANT
  • Analyzátor měrného specifického povrchu SURFER
  • Soustavy ultrazvukových zařízení HILSCHER + Elmasonic

Poskytované služby

  • Rentgenová difrakční analýza
  • Termická analýza
  • Analýza velikosti částic a nanočástic, distribuce velikosti částic
  • Stanovení zeta potenciálu
  • Stanovení refrakčního indexu
  • Hodnocení povrchu mikroskopií atomárních sil
  • Stanovení měrného specfického povrchu
  • Tryskové mletí
  • Kulové mletí v planetárním kulovém mlýně, mletí v ochranné atmosféře dusíku, analýza teploty a tlaku v průběhu mlecího procesu

Kontakt

doc. Ing. Gražyna Simha Martynková, Ph.D.
e-mail: grazyna.simha@vsb.cz
tel.: +420 597 321 572